計測と制御 60巻3号

計測と制御 60巻3号

特集 Operando計測 ―先端計測が拓く革新的材料・デバイス開発事例―

発行年月日
2021/03/10
判型
A4
在庫あり

定価

2,156(本体1,960円+税)

カートに入れる

電子版を購入

購入案内

計測と制御 60巻3号

計測自動制御学会の機関紙として創刊され、会員の研究成果を発表するとともに、海外における研究の紹介、解説記事、資料の紹介等を掲載し、学会および技術開の発展に寄与せんとするものである。

  • 内容紹介

[リレー記事] 「FACE the future」《第27回》ヒト睡眠ダイナミクスの理解と制御を目指して
岸 哲史(東京大)

特集 Operando計測 ―先端計測が拓く革新的材料・デバイス開発事例―

[総論]
Operando計測の展開
雨宮 慶幸(高輝度光科学研), 石井 順太郎(産総研)

[解説]
有機半導体におけるキャリアダイナミクスの先端分光計測
宮本 辰也,大瀧 貴史,貴田 徳明(東京大),岡本 博(東京大/産総研)

量子ビーム計測を活用した低燃費・高性能なタイヤの開発
岸本 浩通(住友ゴム),篠原 佑也(オークリッジ国立研)

陽電子ビームによる大気環境下での機能性薄膜評価
大島 永康(産総研)

放射光によるミリ秒CTイメージング
矢代 航(東北大)

液中プラズマ反応場解析のための水和電子分光測定
伯田 幸也(産総研),寺嶋 和夫,榊原 教貴(産総研/東京大),三浦 永祐(産総研)

和周波分光を用いたオペランド界面計測
宮前 孝行(千葉大)

放射光軟X線分光法によるリチウムイオン電池の電子状態オペランド計測
細野 英司(産総研),原田 慈久(東京大),朝倉 大輔(産総研)

走査電子顕微鏡を利用したNEMSのオペランド動特性計測
米谷 玲皇,割沢 伸一(東京大)

X線1分子追跡法によるタンパク質分子内部の動態計測
佐々木 裕次(東京大/産総研),三尾 和弘(産総研)

XAFS分光イメージングによる固体触媒のオペランド可視化
唯 美津木,松井 公佑(名古屋大)

[新人研究者によるサーベイ報告]
低速陽電子ビーム分析技術に関する調査研究
満汐 孝治(産総研)

[書評]
「これからのロボットプログラミング入門」(上田 悦子, 小枝 正直, 中村 恭之 共著)
土井 智晴(府大高専)

[編集後記]
斉藤 郁彦(産総研)