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書籍詳細

  エレクトロニクス計測

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須山正敏 元日大教授 工博 著

関根好文 日大名誉教授 工博 著

発行年月日:1989/03/30 , 判 型: A5,  ページ数:210頁

ISBN:978-4-339-00570-7,  定 価:2,700円 (本体2,500円+税)

エレクトロニクス技術を駆使した計測について,基礎理論から計測器,RF・超音波・光・放射線利用の計測に至るまで最新のデータを含め解説。

【目次】

1. エレクトロニクス計測とは
 1.1 まえがき
 1.2 国際単位系
  1.2.1 SIの構成
  1.2.2 基本単位
1. エレクトロニクス計測とは
 1.1 まえがき
 1.2 国際単位系
  1.2.1 SIの構成
  1.2.2 基本単位
  1.2.3 補助単位
  1.2.4 組立単位
  1.2.5 接頭語
 1.3 トレーサビリティ
2. エレクトロニクス計測の基礎
 2.1 まえがき
  2.1.1 エレクトロニクス計測の基礎
  2.1.2 エレクトロニクス計測の主な測定対象
  2.1.3 データ処理
  2.1.4 誤差の評価
 2.2 センサ、トランスデューサ
 2.3 物理量の電気量への変換
  2.3.1 インピーダンス変化法
  2.3.2 起電力法
 2.4 化学量の電気量への変換
  2.4.1 pH計
  2.4.2 導電率計
  2.4.3 電気的滴定
  2.4.4 ポーラログラフ
  2.4.5 電磁濃度計
  2.4.6 ガスクロマトグラフィー
  2.4.7 その他の方法
3. A-D変換とD-A変換
 3.1 まえがき
 3.2 A-D変換の基礎
  3.2.1 標本化
  3.2.2 量子化
  3.2.3 符号化
 3.3 A-D変換器
  3.3.1 デュアルスロープ形
  3.3.2 周波数変換形
  3.3.3 電荷平衡形
  3.3.4 逐次比較形
  3.3.5 追従比較形
  3.3.6 並列比較形
  3.3.7 直列比較形
  3.3.8 ランプ形
 3.4 D-A変換
  3.4.1 D-Aコンバータの方式
4. エレクトロニクス計測器
 4.1 まえがき
 4.2 エレクトロニクス電圧計
  4.2.1 平均値応答と実効値応答
  4.2.2 2線式と4線式
  4.2.3 けた数とオーバレンジ
  4.2.4 ノイズ対策
  4.2.5 確度
  4.2.6 応答時間/読取り速度
 4.3 オシロスコープ
 4.4 信号発生器
 4.5 周波数カウンタ
 4.6 スペクトラムアナライザ
 4.7 ベクトルボルトメータ
 4.8 インピーダンス測定器
 4.9 雑音指数測定器
 4.10 コンピュータ利用計測
  4.10.1 はじめに
  4.10.2 システムの構成法
  4.10.3 標準インタフェース
5. RF計測
 5.1 まえがき
 5.2 分布定数伝送路のパラメータ
  5.2.1 特性インピーダンス
  5.2.2 減衰定数、位相定数および位相速度
 5.3 電圧と電流の関係、反射係数と定在波比
 5.4 線路パラメータの測定
 5.5 溝付定在波検出器を使った定在波比の測定
 5.6 パルス計測
 5.7 RF自動計測
6. 超音波利用の計測
 6.1 まえがき
 6.2 超音波の発生
  6.2.1 磁気ひずみ材料
  6.2.2 圧電材料
 6.3 超音波の性質
  6.3.1 指向性
  6.3.2 反射と屈折
  6.3.3 干渉と共振
  6.3.4 光への回折、屈折
 6.4 超音波応用計測
  6.4.1 パルス反射形計測法
  6.4.2 透過形計測法
  6.4.3 共振形計測法
  6.4.4 伝搬速度形計測法
  6.4.5 干渉形計測法
  6.4.6 光との相互作用(超音波ホログラフィー)
7. 光利用の計測
 7.1 まえがき
 7.2 光電変圧器
  7.2
.1 光電効果
  7.2.2 ホトダイオード、ホトトランジスタ
 7.3 自然光応用計測
  7.3.1 透過形計測
  7.3.2 反射形計測
  7.3.3 放射形計測
 7.4 レーザの原理
  7.4.1 物質中の光の吸収と放出
  7.4.2 レーザの発振
  7.4.3 レーザ光の性質
 7.5 レーザ応用に関する基礎技術
  7.5.1 ジャイアントパルスの発生
  7.5.2 変調
  7.5.3 レーザ光の検出
 7.6 レーザ応用計測
  7.6.1 直視形計測
  7.6.2 反射形計測
  7.6.3 反射干渉形計測
  7.6.4 透過干渉形計測
  7.6.5 リングレーザとその応用
  7.6.6 ファラデー効果の利用
  7.6.7 ホログラフィー
 7.7 光ファイバ
8. 放射線利用の計測
 8.1 まえがき
 8.2 放射線とその性質
  8.2.1 α線
  8.2.2 β線
  8.2.3 X線、γ線
 8.3 放射線の単位
 8.4 放射線検出器 
  8.4.1 検出の原理 
  8.4.2 電離箱
  8.4.3 比例計数管
  8.4.4 GM 計数管
  8.4.5 半導体検出器
  8.4.6 シンチレーションカウンタ
  8.4.7 放射性同位元素
 8.5 放射線応用計測
  8.5.1 透過形計測
  8.5.2 散乱形計測
  8.5.3 電離形計測
  8.5.4 追跡形計測
9. 時間・周波数標準での計測
 9.1 まえがき
 9.2 時間・周波数標準器
  9.2.1 セシウムビーム周波数標準器
  9.2.2 ルビジウム周波数標準器
  9.2.3 水晶発振器
 9.3 周波数安定度の計測
  9.3.1 周波数領域
  9.3.2 時間領域
 9.4 時間・周波数の精密遠隔比較
  9.4.1 基本的な問題
  9.4.2 精密比較システム
10. その他のエレクトロニクス計測
 10.1 まえがき
 10.2 超電導利用の計測
 10.3 環境公害計測
  10.3.1 まえがき
  10.3.2 大気汚染物質の計測
 10.4 バイオセンサ
  10.4.1 酵素センサ
  10.4.2 微生物センサ
  10.4.3 免疫センサ
  10.4.4 バイオチップセンサ
 10.5 計測における今後の課題
  10.5.1 生物に学ぶ計測
  10.5.2 味の計測
  10.5.3 臭いの計測
参考文献
索引

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