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書籍詳細

精密工学講座 8)

  精密測定学

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櫻井好正 千葉工大名誉教授 工博 著

発行年月日:1982/02/20 , 判 型: A5,  ページ数:152頁

ISBN:978-4-339-04152-1,  定 価:2,376円 (本体2,200円+税)

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本書は,精密測定を初めて学習する人々を対象に,基礎的事項を中心に書かれており,原理・方法などについて系統的に記述されている。

【目次】

1. 精密測定の概念
1.1 精密測定の目的と範囲
1.2 測定と検査
1.3 測定の誤差と精度
2. 長さおよび角度の単位と標準
1. 精密測定の概念
1.1 精密測定の目的と範囲
1.2 測定と検査
1.3 測定の誤差と精度
2. 長さおよび角度の単位と標準
2.1 長さの単位──メートル
  2.1.1 原器によるメートルの定義
  2.1.2 メートル原器から光波基準へ
  2.1.3 86Kr(クリプトン86)の橙色線によるメートルの定義
  2.1.4 メートルの二次標準
  2.1.5 安定化レーザと光速度によるメートルの定義
2.2 長さの単位──ヤード
2.3 角度の単位
2.4 長さの実用標準
  2.4.1 標準尺
  2.4.2 ブロックゲージ
  2.4.3 支え方
2.5 角度の実用標準
  2.5.1 多面鏡(ポリゴン鏡)
  2.5.2 精密角度インデックス
  2.5.3 角度ゲージ
3. 長さの測定と検査
3.1 測定系の構成
3.2 位置の検出
  3.2.1 機械的接触による面の検出
  3.2.2 光学的拡大像による検出
  3.2.3 収れん光のスポットを用いる検出
3.3 変位の測定
  3.3.1 光の波長を用いた測定
  3.3.2 目盛尺とバーニヤによる測定
  3.3.3 標準尺と測微顕微鏡による測定
  3.3.4 光学格子による測定
  3.3.5 電磁誘導式スケールによる測定
  3.3.6 磁気式スケールによる測定
  3.3.7 コードパターン(code pattern)をもつスケールによる測定
  3.3.8 ねじによる測定
  3.3.9 光の到達時間を用いる測定
3.4 微小変位の拡大・変換
  3.4.1 機械式
  3.4.2 光学式
  3.4.3 電気式
  3.4.4 空気式
3.5 測定物と標準の配置についての原則
  3.5.1 アッベ(Abbe)の原理
  3.5.2 エッペンシュタイン(Eppenstein)の原理
3.6 限界ゲージによる検査
  3.6.1 限界ゲージ
  3.6.2 テーラー(Taylor)の原理
4. 角度の測定
4.1 測定系の構成
4.2 角度位置の検出・徴小角変位の測定
  4.2.1 水準器
  4.2.2 オートコリメータ
4.3 角変位の測定
  4.3.1 目盛円板を用いる方法
  4.3.2 格子による測定
4.4 三角法および分割法による角度の設定
  4.4.1. サインバーおよびタンジェントバー
  4.4.2 分割法
5. 測定の誤差と精度
5.1 測定値の不確かさ
5.2 誤差の性質
  5.2.1 誤差の性格上の分類
  5.2.2 偶然誤差の性質
  5.2.3 系統誤差の性質
5.3 測定の精度
6. 精密測定器概論
6.1 ブロックゲージ干渉計
6.2 標準尺干渉計
6.3 測長機
6.4 測定顕微鏡
6.5 座標測定機
6.6 輪郭投影機
6.7 コンパレータ
6.8 光学式精密角度測定機
参考文献
索引

在庫は時期によりまして変動することがございますので、ご了承ください。